Estudo da evolucao da textura da microtextura e da mesotextura de recristalizacao apos baixo grau de deformacao a frio em aco eletrico com 2 porcento Si

dc.contributor.authorLIMA, L.M.F.G.pt_BR
dc.contributor.authorAGUIAR, A.A.pt_BR
dc.contributor.authorLIMA, N.B.pt_BR
dc.contributor.authorPADILHA, A.F.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.eventoCONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 16.pt_BR
dc.date.accessioned2014-11-17T18:32:40Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-18T18:38:35Zpt_BR
dc.date.accessioned2015-04-01T20:40:29Z
dc.date.available2014-11-17T18:32:40Zpt_BR
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dc.date.evento28 nov. - 02 dez, 2004pt_BR
dc.description.abstractNeste trabalho estudou-se a evolução da textura, da microtextura e da mesotextura de recristalização após baixos graus de deformação a frio em aço baixo carbono com 2% de silício, de grão não orientado, para a fabricação de motores. Os materiais utilizados para este fim sofrem um processo de laminação com baixo grau de encruamento, objetivando condicionar a microestrutura a um crescimento anormal de grãos. As técnicas utilizadas, neste estudo, foram a difração de raios X e a difração de elétrons retroespalhados (EBSD). As análises foram realizadas por meio da função de distribuição de orientações (FDO), relação de coincidência de sítios de rede (CSL) e mapas de contornos de ângulo. Os resultados mostram que a cinética de crescimento do grão é proporcional ao tempo de tratamento térmico. A análise da textura por difração de raios X mostra que os estágios iniciais de crescimento dos grãos são acompanhados da diminuição da orientação (011)<100>. Para as amostras do material com tamanho de grão maior, as análises por EBSD apresentaram, como resultado, uma distribuição aleatória de orientações. Constatou-se, também, que o crescimento anormal dos grãos ocorre da superfície para o centro da amostra. A técnica de EBSD é adequada para determinar as orientações entre regiões delimitadas por contornos de baixo ângulo. Nos mapas de contornos de grãos observa-se que a densidade de subcontornos varia da superfície para o centro. A principal conseqüência no material que sofreu tratamento térmico após processo de laminação com redução em espessura de aproximadamente 9%, é que, a recuperação leva à diminuição da densidade de discordâncias dentro dos grãos e à formação de subcontornos, com relação de orientação em torno de 1o a 2o . Além disso, a relação de orientação predominante entre os contornos de alto ângulo, observada na microestrutura totalmente recristalizada, é S3.
dc.event.siglaCBECIMATpt_BR
dc.identifier.citationLIMA, L.M.F.G.; AGUIAR, A.A.; LIMA, N.B.; PADILHA, A.F. Estudo da evolucao da textura da microtextura e da mesotextura de recristalizacao apos baixo grau de deformacao a frio em aco eletrico com 2 porcento Si. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 16., 28 nov. - 02 dez, 2004, Porto Alegre, RS. <b>Anais...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17448.
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-6444-9224
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17448pt_BR
dc.local.eventoPorto Alegre, RSpt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectsteelspt_BR
dc.subjectcarbonpt_BR
dc.subjectsiliconpt_BR
dc.subjectdeformationpt_BR
dc.subjectelectric motorspt_BR
dc.subjectgrain growthpt_BR
dc.subjectrecrystallizationpt_BR
dc.subjecttexturept_BR
dc.subjectx-ray diffractionpt_BR
dc.subjectelectron diffractionpt_BR
dc.titleEstudo da evolucao da textura da microtextura e da mesotextura de recristalizacao apos baixo grau de deformacao a frio em aco eletrico com 2 porcento Sipt_BR
dc.typeTexto completo de eventopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorNELSON BATISTA DE LIMA
ipen.autorAMANDA ABATI AGUIAR
ipen.autorLIANA MARIA FEREZIM GUIMARAES DE LIMA
ipen.codigoautor550
ipen.codigoautor3150
ipen.codigoautor1765
ipen.contributor.ipenauthorNELSON BATISTA DE LIMA
ipen.contributor.ipenauthorAMANDA ABATI AGUIAR
ipen.contributor.ipenauthorLIANA MARIA FEREZIM GUIMARAES DE LIMA
ipen.date.recebimento05-08pt_BR
ipen.event.datapadronizada2004pt_BR
ipen.identifier.ipendoc10518pt_BR
ipen.notas.internasAnaispt_BR
ipen.type.genreArtigo
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sigepi.autor.atividadeLIMA, L.M.F.G.:1765:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeAGUIAR, A.A.:3150:32:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeLIMA, N.B.:550:32:Npt_BR

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