Caracterização de campos padrões para calibração de instrumentos, nível mamografia
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2000
Autores IPEN
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INTERNATIONAL CONFERENCE ON ADVANCED METROLOGY IN CHEMISTRY AND LABORATORY QUALITY; BRAZILIAN CONGRESS OF METROLOGY, 2nd; INTER-AMERICAN CONGRESS ON METROLOGY IN CHEMISTRY, 2nd; NATIONAL MEETING OF ACCREDITED LABORATORIES, 2nd
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Resumo
A dosimetria e o diagnóstico em mamografia requerem a utilização de câmaras de ionização especificas a fim de reduzir as incertezas das medidas para controle de qualidade e proteção radiológica. Assim, é importante que estas câmaras sejam calibradas em feixes de raios X padronizados contendo as características do espectro mamográfico. Neste trabalho foi realizado um estudo do uso de filtros de molibdênio, com 99,99% de pureza, na saída do feixe de raios X proveniente da interação dos elétrons com UM alvo de tungstênio para o estabelecimento de campos padrões, nível mamografia, no Laboratório de Calibração de Instrumentos do Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares. Como instrumento de referência foi escolhida uma câmara de ionização recentemente calibrada no Laboratório de Calibração do Center for Devices and Radiological Health, Food and Drug Adninistration, EUA. Foram determinadas as camadas semi-redutoras para as energias entre /4 e 23 keV, incluindo medidas de feixe de saída. Os resultados quanto ao controle de qualidade do sistema de raios X e da câmara de ionização estão em conformidade com os padrões de desempenho estabelecidos na legislação nacional e interacional. As características das qualidades. de radiação estabelecidas mostram uma concordância das energias equivalentes entre os dois laboratórios.
Como referenciar
GUERRA, A.B.; CALDAS, L.V.E. Caracterizacao de campos padroes para calibracao de instrumentos, nivel mamografia. In: FROTA, M.N. (ed.); CARMO, L.C.S. (ed.). In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON ADVANCED METROLOGY IN CHEMISTRY AND LABORATORY QUALITY; BRAZILIAN CONGRESS OF METROLOGY, 2nd; INTER-AMERICAN CONGRESS ON METROLOGY IN CHEMISTRY, 2nd; NATIONAL MEETING OF ACCREDITED LABORATORIES, 2nd, Dec. 4-7, 2000, Sao Paulo, SP. Proceedings... p. 311-319. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/15166. Acesso em: 30 Dec 2025.
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