Desenvolvimento de um software de controle e analise de um sistema de Z-scan para determinacao do indice de refracao naolinear de materiais de interesse para lasers

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dc.contributor.authorSAMAD, R.E.pt_BR
dc.contributor.authorVIEIRA JUNIOR, N.D.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.evento17o. ENCONTRO NACIONAL DE FISICA DA MATERIA CONDENSADA, OPTICApt_BR
dc.date.accessioned2014-11-17T17:45:08Zpt_BR
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dc.date.accessioned2015-04-02T00:19:50Z
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dc.date.evento7-11 de junho, 1994pt_BR
dc.format.extent143-146pt_BR
dc.identifier.citationSAMAD, R.E.; VIEIRA JUNIOR, N.D. Desenvolvimento de um software de controle e analise de um sistema de Z-scan para determinacao do indice de refracao naolinear de materiais de interesse para lasers. In: 17o. ENCONTRO NACIONAL DE FISICA DA MATERIA CONDENSADA, OPTICA, 7-11 de junho, 1994, Caxambu, MG. p. 143-146. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/15058.
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0003-0092-9357
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0001-7762-8961
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/15058pt_BR
dc.local.eventoCaxambu, MGpt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectprogramming languagespt_BR
dc.subjectcontrol systemspt_BR
dc.subjectsystems analysispt_BR
dc.subjectlaserspt_BR
dc.subjectrefractive indexpt_BR
dc.titleDesenvolvimento de um software de controle e analise de um sistema de Z-scan para determinacao do indice de refracao naolinear de materiais de interesse para laserspt_BR
dc.typeTexto completo de eventopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorNILSON DIAS VIEIRA JUNIOR
ipen.autorRICARDO ELGUL SAMAD
ipen.codigoautor1582
ipen.codigoautor909
ipen.contributor.ipenauthorNILSON DIAS VIEIRA JUNIOR
ipen.contributor.ipenauthorRICARDO ELGUL SAMAD
ipen.date.recebimento94-07pt_BR
ipen.event.datapadronizada1994pt_BR
ipen.identifier.ipendoc05470pt_BR
ipen.type.genreArtigo
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sigepi.autor.atividadeSAMAD, R.E.:909:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeVIEIRA JUNIOR, N.D.:1582:-1:Npt_BR

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