Avaliacao da microestrutura apos laminacao a frio em acos eletricos
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1998
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53o. CONGRESSO ANUAL DA ASSOCIACAO BRASILEIRA DE METALURGIA E MATERIAIS - TECNOLOGIA METALURGICA E MATERIAIS
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TAKANOHASHI, R.; LANDGRAF, F.J.G.; GONCALVES, M.; EMURA, M.; ALVES, G.S.; CAMPOS, M.F.; PASSARO, A.M.P.; LIMA, N.B.; ZWIRMAN, N.S.; WOLGIEN, V. Avaliacao da microestrutura apos laminacao a frio em acos eletricos. In: 53o. CONGRESSO ANUAL DA ASSOCIACAO BRASILEIRA DE METALURGIA E MATERIAIS - TECNOLOGIA METALURGICA E MATERIAIS, 13-17 de setembro, 1998, Belo Horizonte, MG. p. 1465-1478. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/12214. Acesso em: 30 Dec 2025.
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