Estudos de composição e espessura de filmes finos utilizando-se a técnica de Rutherford backscattering spectroscopy (RBS)
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2009
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SEMINARIO ANUAL DO PROGRAMA INSTITUCIONAL DE BOLSAS DE INICIACAO CIENTIFICA, 15.; SEMINARIO ANUAL DO PROGRAMA DE BOLSAS E INICIACAO CIENTIFICA, 6.
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SIMONSSINI, MARIO A.; ANDRADE, LEANDRO H.F. de. Estudos de composicao e espessura de filmes finos utilizando-se a tecnica de Rutherford backscattering spectroscopy (RBS). In: SEMINARIO ANUAL DO PROGRAMA INSTITUCIONAL DE BOLSAS DE INICIACAO CIENTIFICA, 15.; SEMINARIO ANUAL DO PROGRAMA DE BOLSAS E INICIACAO CIENTIFICA, 6., 7-8 de outubro, 2009, Sao Paulo, SP. Resumo expandido... p. 145-146. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/22754. Acesso em: 26 Feb 2025.
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