Influencia da microestrutura nas propriedades eletricas dos condutores ionicos a base de bismuto de composicao Bisub(26)Mosub(10-x)Wsub(x)Osub(69)
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2000
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CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 14.
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FONSECA, F.C.; STEIL, M.C.; VANNIER, R.N.; MAIRESSE, G.; BOIVIN, J.C.; MUCCILLO, R. Influencia da microestrutura nas propriedades eletricas dos condutores ionicos a base de bismuto de composicao Bisub(26)Mosub(10-x)Wsub(x)Osub(69). In: KIMINAMI, C.S. (ed.); EIRAS, J.A. (ed.); PESSAN, L.A. (ed.); TOMASI, R. (ed.). In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 14., 3-6 dez, 2000, Sao Pedro, SP. Anais... p. 7101-7109. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13417. Acesso em: 20 Mar 2026.
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