Avaliação da uniformidade de fonte extensa de referência circular e aplicação de fatores de correção

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dc.contributor.authorSILVA JUNIOR, I.A.
dc.contributor.authorXAVIER, M.
dc.contributor.authorSIQUEIRA, P.T.D.
dc.contributor.authorSORDI, G.A.A.
dc.contributor.authorPOTIENS, M.P.A.
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.eventoCONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA, 9.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA MECANICA, 4.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELETRICA, 12.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA DAS RADIAÇOES IONIZANTES, 4.; WORKSHOP DA REDE DE METROLOGIA QUIMICA DO INMETRO, 3.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA OPTICA, 2.pt_BR
dc.date.accessioned2018-02-27T11:46:09Z
dc.date.available2018-02-27T11:46:09Z
dc.date.evento26-29 de novembro, 2017pt_BR
dc.description.abstractNeste trabalho é avaliada a uniformidade de fontes extensas de referência circular, que ainda são bastante utilizadas no Brasil. Em trabalhos anteriores foram analisadas fontes extensas de referência retangular mostrando-se a importância da aplicação de fatores de correção na calibração de monitores de radiação. Agora é realizada uma transposição de métodos usados então, avaliando-se as uniformidades de fontes de referência circular e calculando-se os fatores de correção associados.pt_BR
dc.event.siglaCBM; CIMMEC; SEMETRO; CBMRI; REMEQ-I; CBMOpt_BR
dc.format.extent1-4pt_BR
dc.identifier.citationSILVA JUNIOR, I.A.; XAVIER, M.; SIQUEIRA, P.T.D.; SORDI, G.A.A.; POTIENS, M.P.A. Avaliação da uniformidade de fonte extensa de referência circular e aplicação de fatores de correção. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA, 9.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA MECANICA, 4.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELETRICA, 12.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA DAS RADIAÇOES IONIZANTES, 4.; WORKSHOP DA REDE DE METROLOGIA QUIMICA DO INMETRO, 3.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA OPTICA, 2., 26-29 de novembro, 2017, Fortaleza, CE. <b>Anais...</b> Rio de Janeiro, RJ: Sociedade Brasileira de Metrologia, 2017. p. 1-4. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/28586.
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-4049-6720
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/28586
dc.localRio de Janeiro, RJpt_BR
dc.local.eventoFortaleza, CEpt_BR
dc.publisherSociedade Brasileira de Metrologiapt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectradiation monitors
dc.subjectcalibration standards
dc.subjectcircular configuration
dc.subjectmeasuring instruments
dc.subjectefficiency
dc.titleAvaliação da uniformidade de fonte extensa de referência circular e aplicação de fatores de correçãopt_BR
dc.typeTexto completo de eventopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorMARIA DA PENHA ALBUQUERQUE POTIENS
ipen.autorGIAN MARIA AGOSTINO ANGELO SORDI
ipen.autorPAULO DE TARSO DALLEDONE SIQUEIRA
ipen.autorMARCOS XAVIER
ipen.autorIREMAR ALVES DA SILVA JÚNIOR
ipen.codigoautor346
ipen.codigoautor241
ipen.codigoautor968
ipen.codigoautor712
ipen.codigoautor7719
ipen.contributor.ipenauthorMARIA DA PENHA ALBUQUERQUE POTIENS
ipen.contributor.ipenauthorGIAN MARIA AGOSTINO ANGELO SORDI
ipen.contributor.ipenauthorPAULO DE TARSO DALLEDONE SIQUEIRA
ipen.contributor.ipenauthorMARCOS XAVIER
ipen.contributor.ipenauthorIREMAR ALVES DA SILVA JÚNIOR
ipen.date.recebimento18-02pt_BR
ipen.event.datapadronizada2017pt_BR
ipen.identifier.ipendoc24436pt_BR
ipen.notas.internasAnaispt_BR
ipen.type.genreArtigo
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relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery67010d40-4537-480f-bdea-16933cb99afb
sigepi.autor.atividadeSILVA JUNIOR, I.A.:7719:330:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeXAVIER, M.:712:330:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeSIQUEIRA, P.T.D.:968:420:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeSORDI, G.A.A.:241:1110:Npt_BR
sigepi.autor.atividadePOTIENS, M.P.A.:346:330:Npt_BR

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