D-scan measurement of the ablation threshold and incubation parameter of optical materials in the ultrafast regime
Carregando...
Data
Data de publicação
2012
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
LATIN AMERICA OPTICS AND PHOTONICS TECHNICAL DIGEST
Como referenciar
SAMAD, RICARDO E.; MACHADO, LEANDRO M.; ROSSI, WAGNER de; VIEIRA JUNIOR, NILSON D. D-scan measurement of the ablation threshold and incubation parameter of optical materials in the ultrafast regime. In: LATIN AMERICA OPTICS AND PHOTONICS TECHNICAL DIGEST, October 10-13, 2012, Maresias, SP. Proceedings... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17688. Acesso em: 20 Mar 2026.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.