Aplicacao de difratometria de raios-x no estudo da formacao de solucao solida ThOsub(2)-UOsub(2)

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dc.contributor.authorTOMASI, R.pt_BR
dc.contributor.authorIMAKUMA, K.pt_BR
dc.contributor.authorFREITAS, C.T.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.evento2rd CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAISpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-17T18:49:25Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-18T18:55:29Zpt_BR
dc.date.accessioned2015-04-01T22:08:45Z
dc.date.available2014-11-17T18:49:25Zpt_BR
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dc.date.available2015-04-01T22:08:45Z
dc.date.evento11-15 dez, 1978pt_BR
dc.identifier.citationTOMASI, R.; IMAKUMA, K.; FREITAS, C.T. Aplicacao de difratometria de raios-x no estudo da formacao de solucao solida ThOsub(2)-UOsub(2). In: 2rd CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 11-15 dez, 1978, Rio de Janeiro, RJ, Brasil. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18571.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18571pt_BR
dc.local.eventoRio de Janeiro, RJ, Brasilpt_BR
dc.rightsopenAccess
dc.subjectdissolutionpt_BR
dc.subjectsolid solutionspt_BR
dc.subjectthorium oxidespt_BR
dc.subjecturanium dioxidept_BR
dc.subjectx-ray diffractionpt_BR
dc.titleAplicacao de difratometria de raios-x no estudo da formacao de solucao solida ThOsub(2)-UOsub(2)pt_BR
dc.typeTexto completo de eventopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorCLAUER TRENCH DE FREITAS
ipen.autorKENGO IMAKUMA
ipen.autorROBERTO TOMASI
ipen.codigoautor1079
ipen.codigoautor541
ipen.codigoautor9547
ipen.contributor.ipenauthorCLAUER TRENCH DE FREITAS
ipen.contributor.ipenauthorKENGO IMAKUMA
ipen.contributor.ipenauthorROBERTO TOMASI
ipen.date.recebimento81-12pt_BR
ipen.event.datapadronizada1978pt_BR
ipen.identifier.ipendoc01247pt_BR
ipen.type.genreArtigo
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sigepi.autor.atividadeTOMASI, R.:9547:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeIMAKUMA, K.:541:-1:Npt_BR
sigepi.autor.atividadeFREITAS, C.T.:1079:-1:Npt_BR
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