Aplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SP

dc.contributor.authorSAIKI, M.pt_BR
dc.contributor.authorLELLIS, L.O.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.evento2o. CGENpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-17T17:15:06Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-18T17:14:06Zpt_BR
dc.date.accessioned2015-04-02T01:18:21Z
dc.date.available2014-11-17T17:15:06Zpt_BR
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dc.date.available2015-04-02T01:18:21Z
dc.date.evento23-26 de abril, 1988pt_BR
dc.identifier.citationSAIKI, M.; LELLIS, L.O. Aplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SP. In: 2o. CGEN, 23-26 de abril, 1988, Rio de Janeiro, RJ. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13037.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13037pt_BR
dc.local.eventoRio de Janeiro, RJpt_BR
dc.subjectneutron activation analysispt_BR
dc.subjectrare earthspt_BR
dc.subjectoxidespt_BR
dc.subjectimpuritiespt_BR
dc.subjectge semiconductor detectorspt_BR
dc.titleAplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SPpt_BR
dc.typeTexto completo de eventopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorMITIKO SAIKI
ipen.codigoautor1178
ipen.contributor.ipenauthorMITIKO SAIKI
ipen.date.recebimento88-12pt_BR
ipen.event.datapadronizada1988pt_BR
ipen.identifier.ipendoc01691pt_BR
ipen.observacoesarquivo não disponível no Repositóriopt_BR
ipen.type.genreArtigo
relation.isAuthorOfPublication78e9df14-8ccf-4a31-a02f-4a8a4c111c14
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery78e9df14-8ccf-4a31-a02f-4a8a4c111c14
sigepi.autor.atividadeSAIKI, M.:1178:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeLELLIS, L.O.:-1:-1:Npt_BR
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