Aplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SP
dc.contributor.author | SAIKI, M. | pt_BR |
dc.contributor.author | LELLIS, L.O. | pt_BR |
dc.coverage | Nacional | pt_BR |
dc.creator.evento | 2o. CGEN | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2014-11-17T17:15:06Z | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2014-11-18T17:14:06Z | pt_BR |
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dc.date.available | 2015-04-02T01:18:21Z | |
dc.date.evento | 23-26 de abril, 1988 | pt_BR |
dc.identifier.citation | SAIKI, M.; LELLIS, L.O. Aplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SP. In: 2o. CGEN, 23-26 de abril, 1988, Rio de Janeiro, RJ. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13037. | |
dc.identifier.uri | http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13037 | pt_BR |
dc.local.evento | Rio de Janeiro, RJ | pt_BR |
dc.subject | neutron activation analysis | pt_BR |
dc.subject | rare earths | pt_BR |
dc.subject | oxides | pt_BR |
dc.subject | impurities | pt_BR |
dc.subject | ge semiconductor detectors | pt_BR |
dc.title | Aplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SP | pt_BR |
dc.type | Texto completo de evento | pt_BR |
dspace.entity.type | Publication | |
ipen.autor | MITIKO SAIKI | |
ipen.codigoautor | 1178 | |
ipen.contributor.ipenauthor | MITIKO SAIKI | |
ipen.date.recebimento | 88-12 | pt_BR |
ipen.event.datapadronizada | 1988 | pt_BR |
ipen.identifier.ipendoc | 01691 | pt_BR |
ipen.observacoes | arquivo não disponível no Repositório | pt_BR |
ipen.type.genre | Artigo | |
relation.isAuthorOfPublication | 78e9df14-8ccf-4a31-a02f-4a8a4c111c14 | |
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery | 78e9df14-8ccf-4a31-a02f-4a8a4c111c14 | |
sigepi.autor.atividade | SAIKI, M.:1178:-1:S | pt_BR |
sigepi.autor.atividade | LELLIS, L.O.:-1:-1:N | pt_BR |