Radiation-induced charge trapping and recombination process in natural topaz studied by TL, EPR and XRD
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2003
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INTERNATIONAL CONFERENCE ON RADIATION EFFECTS IN INSULATORS, 12th
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SOUZA, D.N.; LIMA, J.F.; VALERIO, M.E.G.; SASAKI, J.M.; CALDAS, L.V.E. Radiation-induced charge trapping and recombination process in natural topaz studied by TL, EPR and XRD. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON RADIATION EFFECTS IN INSULATORS, 12th, Aug. 31 - Sept. 5, 2003, Gramado, RS. Proceedings... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/15582. Acesso em: 30 Dec 2025.
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