Determination of Cr:LiSAF crystals ablation thresholds on the 20 ps regime using a diagonal scan
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2007
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SOLID STATE LASERS, 16th: TECHNOLOGY AND DEVICES
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SAMAD, RICARDO E.; BALDOCHI, SONIA L.; VIEIRA JUNIOR, NILSON D. Determination of Cr:LiSAF crystals ablation thresholds on the 20 ps regime using a diagonal scan. In: HOFFMAN, HANNA J. (ed.); SHORI, RAMESH K. (ed.); HODGSON, NORMAN (ed.). In: SOLID STATE LASERS, 16th: TECHNOLOGY AND DEVICES, January 20, 2007, San Jose, California, USA. Proceedings... p. 64511C-1 - 64511C-8. (SPIE Proceedings Series, 6451). Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/25273. Acesso em: 30 Dec 2025.
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