Test and evaluation of semiconductor components in mixed field radiation monitoring
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2009
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INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 9th; MEETING ON REACTOR PHYSICS AND THERMAL HYDRAULICS, 16th; MEETING ON NUCLEAR INDUSTRY, 1st
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CARDENAS, JOSE P.N.; MADI FILHO, TUFIC; RODRIGUES, LETICIA L.C. Test and evaluation of semiconductor components in mixed field radiation monitoring. In: INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 9th; MEETING ON REACTOR PHYSICS AND THERMAL HYDRAULICS, 16th; MEETING ON NUCLEAR INDUSTRY, 1st, September 27 - October 2, 2009, Rio de Janeiro, RJ. Proceedings... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/12015. Acesso em: 25 Apr 2024.
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