Microscopia eletronica de varredura em ligas aluminiouranio. Aspectos morfologicos
Carregando...
Data
Data de publicação:
1976
Autores IPEN
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
2rd CONGRESSO LATINO AMERICANO DE MICROSCOPIA ELETRONICA
Exportar
Como referenciar
AMBROZIO FILHO, F.; QUADROS, N.F.; SILVA, A.M.T. Microscopia eletronica de varredura em ligas aluminiouranio. Aspectos morfologicos. In: 2rd CONGRESSO LATINO AMERICANO DE MICROSCOPIA ELETRONICA, Nov. 22-26, 1976, Santiago, Chile. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18630. Acesso em: 19 Feb 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.