DANIEL DE ABREU ROSSETTO
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Dissertação IPEN-doc 18250 Investigação de interações hiperfinas em pó e filmes finos de dióxido de háfnio pela técnica de correlação angular gama-gama perturbada2011 - ROSSETTO, DANIEL de A.Neste trabalho foi realizada a investigação de interações hiperfinas em amostra nano estruturadas e filmes finos de dióxido de háfnio por meio da técnica de correlação angular gama-gama perturbada (CAP), com o intuito de realizar um estudo sistemático do comportamento dos parâmetros quadrupolares com a temperatura de tratamento térmico. Para a realização destas medidas foi utilizada a ponta de prova 181Hf -> 181Ta que foi produzida na própria amostra por irradiação, no reator IEA-R1 do IPEN. As amostras foram obtidas através do processo químico sol-gel e as análises dos compostos realizadas por difração de raios-X, EDS e MEV. As amostras em forma de pó foram todas produzidas pelo Laboratório de Interações Hiperfinas do IPEN, no entanto o filme fino com espessura de 10nm foi produzido pelo Centro de Lasers e Aplicações (CLA) do IPEN e o filme fino de espessura de 409nm foi produzido pelo Laboratório de Interações Hiperfinas da Universidade de Lisboa. As medidas foram realizadas todas à temperatura ambiente e os resultados mostraram que a fase monoclínica encontra-se presente em todas as amostras e sua fração tende a aumentar sempre com o aumento da temperatura de tratamento térmico na qual foram submetidas às amostras. A impurificação de algumas amostras com elementos Co e Fe foi realizada com a intenção de se observar o comportamento da amostra em função da temperatura de tratamento térmico e também verificar a existência de ferromagnetismo à temperatura ambiente.Artigo IPEN-doc 16507 Characterization of nanostructured HfO2 films using perturbed angular correlation (PAC) technique2010 - CAVALCANTE, F.H.M.; GOMES, M.R.; CARBONARI, A.W.; PEREIRA, L.F.D.; ROSSETTO, D.A.; COSTA, M.S.; REDONDO, L.M.; MESTNIK FILHO, J.; SAXENA, R.N.; SOARES, J.C.The hyperfine field at 181Ta lattice sites in nanostructured HfO2 thin films was studied by the Perturbed Angular Correlation (PAC) technique. Thin oxide films were deposited by Electron Beam Evaporation on a silicon substrate. The thickness of the films was ∼100 nm and ∼250 nm. Radioactive 181Hf nuclei were produced by neutron activation of the film samples in the Brazilian Research Reactor (IPEN IEA-R1) by the reaction 180Hf(n,γ )181Hf. PAC measurements were carried out after annealing at 1473 K. The PAC technique allows the determination of the electric field gradient (EFG) at the probe sites.Artigo IPEN-doc 17881 Characterization of nanostructured HfOsub(2) films using RBS and PAC2012 - CAVALCANTE, F.H.M.; GOMES, M.R.; CARBONARI, A.W.; PEREIRA, L.F.D.; ROSSETTO, D.A.; COSTA, M.S.; ALVES, E.; BARRADAS, N.P.; FRANCO, N.; REDONDO, L.M.; LOPES, A.M.L.; SOARES, J.C.