FERNANDO GABRIEL BENITEZ JARA
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Artigo IPEN-doc 30417 Mathematical expressions for simulation of supercapacitor voltammetry curves and capacitance dependence on scan rate2024 - BENITEZ, FERNANDO G.J.; PERUZZI, ALEJANDRO J.B.; FARIA JUNIOR, RUBENS N.A straightforward RC series circuit model was proposed to fit the cyclic voltammetry experimental data of various symmetrical electrochemical supercapacitors. The model simulated the experimental behavior for exponential dependence of capacitance on the scan rate. In this model, the zero-scan rate capacitance was considered as a constant, and the equivalent serial resistance depended on the scan rate. Neither the equivalent parallel resistance nor a possible intrinsic dependence of capacitance on applied voltage was considered in the modelling.Dissertação IPEN-doc 25964 Estudo das microestruturas e características elétricas de supercapacitadores com eletrodos de carbono ativado e grafeno produzido via HDDR e eletrólito biocompatível para aplicações energéticas2018 - BENITEZ JARA, FERNANDO G.Neste trabalho foi proposto investigar as características de capacitores eletroquímicos de dupla camada elétrica (supercapacitores) utilizando como matéria prima um eletrólito biocompatível como rota viável de baixo custo econômico para obtenção de dispositivos eletrônicos para armazenamento de energia. O objetivo principal foi estudar a influência dos vários parâmetros de processamento nas características elétricas de supercapacitores à base de eletrólito neutro, utilizando, na preparação dos eletrodos oxido de grafeno reduzido via HDDR 400°C e o carbono ativado, também com baixa toxidade e impacto ambiental. O primeiro tópico consistiu na preparação de eletrólitos com diferentes concentrações para avaliar este parâmetro na curva de autodescarga dos supercapacitores. Alternativamente realizou-se a caracterização dos eletrodos preparados com oxido de grafeno reduzido via HDDR 400°C e carbono ativado por ensaios de voltametria cíclica em um analisador eletrônico computadorizado de supercapacitores, que resultou na determinação da capacitância específica do material precursor e das resistências internas. Foram utilizadas técnicas adicionais para caracterização dos materiais precursores e processados, tais como: microscopia eletrônica de varredura (MEV-EDS), difração de raios-X (DRX)