Espectrometria de raios-X com diodos de Si
Carregando...
Data
Data de publicação:
1998
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
É parte de
REUNIAO DE TRABALHO SOBRE FISICA NUCLEAR NO BRASIL, 21.
Como referenciar
MAGALHAES, R.R.; BUENO, C.C.; GONCALVES, J.A.C.; SANTOS, M.D.S. Espectrometria de raios-X com diodos de Si. In: REUNIAO DE TRABALHO SOBRE FISICA NUCLEAR NO BRASIL, 21., 8-12 set, 1998, Itatiaia, RJ. Resumos... p. 81-82. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19435. Acesso em: 07 Sep 2024.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.