Charge carriers and small-polaron migration as the origin of intrinsic dielectric anomalies in multiferroic TbMnOsub(3) polycrystals
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Journal of Physics: Condensed Matter
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SILVEIRA, L.G.D.; DIAS, G.S.; COTICA, L.F.; EIRAS, J.A.; GARCIA, D.; SAMPAIO, J.A.; YOKAICHIYA, F.; SANTOS, I.A. Charge carriers and small-polaron migration as the origin of intrinsic dielectric anomalies in multiferroic TbMnOsub(3) polycrystals. Journal of Physics: Condensed Matter, v. 25, n. 47, p. 875401-1 - 875401-8, 2013. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/8926. Acesso em: 20 Mar 2026.
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