Influencia do ruido eletronico em sistemas de espectrometria de raios-X com diodos de Si

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1999
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REUNIAO DE TRABALHO SOBRE FISICA NUCLEAR NO BRASIL, 22.
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MAGALHAES, R.R.; BUENO, C.C.; GONCALVES, J.A.C.; SANTOS, M.D.S. Influencia do ruido eletronico em sistemas de espectrometria de raios-X com diodos de Si. In: REUNIAO DE TRABALHO SOBRE FISICA NUCLEAR NO BRASIL, 22., 8-12 set, 1999, Sao Lourenco, MG. Resumos... p. 62-63. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/19536. Acesso em: 12 Nov 2024.
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