Rietveld analysis of Besub(3)Alsub(2)(SiOsub(3))sub(6) employing high-resolution neutron powder diffraction patterns
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2011
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ENCONTRO NACIONAL DE FISICA DA MATERIA CONDENSADA, 34.
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PARENTE, C.B.R.; MAZZOCCHI, V.L.; MESTNIK FILHO, J.; MASCARENHAS, Y.P.; WATANABE, S. Rietveld analysis of Besub(3)Alsub(2)(SiOsub(3))sub(6) employing high-resolution neutron powder diffraction patterns. In: ENCONTRO NACIONAL DE FISICA DA MATERIA CONDENSADA, 34., 5-10 de junho, 2011, Foz do Iguaçu, PR. Resumos... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/22480. Acesso em: 30 Dec 2025.
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