Electrical conductivity and microstructural analysis of Cu-Ni-Be alloy for electronic devices

Carregando...
Imagem de Miniatura

Data

Data de publicação

1999

Orientador

Título da Revista

ISSN da Revista

Título do Volume

É parte de

É parte de

É parte de

É parte de

CONGRESS OF THE BRAZILIAN SOCIETY FOR MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, 17th; CONGRESS OF THE BRAZILIAN SOCIETY FOR CELL BIOLOGY, 10th
Exportar
Mendeley

Projetos de Pesquisa

Unidades Organizacionais

Fascículo


Como referenciar
JESUS, S.L.; MONTEIRO, W.A.; SILVA, L.C.E. Electrical conductivity and microstructural analysis of Cu-Ni-Be alloy for electronic devices. In: CONGRESS OF THE BRAZILIAN SOCIETY FOR MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, 17th; CONGRESS OF THE BRAZILIAN SOCIETY FOR CELL BIOLOGY, 10th, Oct. 13-16, 1999, Santos, SP. Proceedings... p. 207-208. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/20989. Acesso em: 30 Dec 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.

Agência de fomento