Microstructural characterization of UF4 by high-resolution synchrotron diffraction
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2012
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CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 20.
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ICHIKAWA, R.U.; MARTINEZ, L.G.; SILVA, R.S.S.; RIELLA, H.G.; CARVALHO, E.F.U.; CONTUBIA, G.; GARCIA, R.H.L.; IMAKUMA, K. Microstructural characterization of UF4 by high-resolution synchrotron diffraction. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 20., 4-8 de novembro, 2012, Joinville, SC. Resumos... p. 807. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/20511. Acesso em: 30 Dec 2025.
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