Análise do comportamento de conectores SMD injetados com polietileno e irradiados após a soldagem sem chumbo

dc.contributor.advisorLeonardo Gondim de Andrade e Silva
dc.contributor.authorZERBATO, TANIA M.S.
dc.coverageNacional
dc.date.accessioned2026-03-12T18:49:01Z
dc.date.available2026-03-12T18:49:01Z
dc.date.issued2024
dc.description.abstractNa incessante busca por inovação na indústria de eletrônicos, o desafio de produzir placas de circuito cada vez menores e mais precisas tornou-se uma prioridade. A adoção generalizada da Tecnologia de Montagem em Superfície (SMT) foi uma resposta necessária a essa demanda, mas também trouxe um desafio significativo: garantir a qualidade da soldagem dos componentes de Montagem em Superfície (SMD) em meio às temperaturas extremas do forno de refusão. Essa tarefa é especialmente delicada para os conectores SMD, cujas partes termoplásticas precisam resistir a condições térmicas severas. Nesse contexto, surge o interesse em explorar o potencial do polietileno irradiado como uma alternativa viável para os conectores SMD. O polietileno, conhecido por sua versatilidade e baixo custo, pode passar por uma transformação significativa quando irradiado, aumentando sua resistência térmica e cristalinidade. Esta pesquisa se propõe a investigar essa possibilidade, considerando três tipos de polietileno: baixa densidade, alta densidade e alta densidade com 17% de fibra de vidro. Após serem irradiados com doses de 100 kGy e 300 kGy, os materiais foram submetidos a testes rigorosos em condições simuladas de soldagem sem chumbo, variando de 110 a 260°C. Os resultados preliminares revelaram uma descoberta promissora: o polietileno de alta densidade com fibra de vidro apresentou desempenho térmico superior durante esse processo. Este estudo não apenas ilumina uma potencial solução para os desafios enfrentados pela indústria eletrônica, mas também ressalta a importância da inovação e da busca por alternativas sustentáveis e eficazes. Acredita-se que, ao explorar novos materiais e processos, é possível impulsionar o avanço tecnológico de forma responsável e criativa.
dc.description.notasgeraisDissertação (Mestrado em Tecnologia Nuclear)
dc.description.notasteseIPEN/D
dc.description.teseinstituicaoInstituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP
dc.format.extent47
dc.identifier.citationZERBATO, TANIA M.S. <b>Análise do comportamento de conectores SMD injetados com polietileno e irradiados após a soldagem sem chumbo</b>. Orientador: Leonardo Gondim de Andrade e Silva. 2024. 47 f. Dissertação (Mestrado em Tecnologia Nuclear) - Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, São Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/D.85.2024.tde-20022025-144210">10.11606/D.85.2024.tde-20022025-144210</a>. Disponível em: https://repositorio.ipen.br/handle/123456789/49423.
dc.identifier.doi10.11606/D.85.2024.tde-20022025-144210
dc.identifier.urihttps://repositorio.ipen.br/handle/123456789/49423
dc.language.isopor
dc.localSão Paulo
dc.rightsopenAccess
dc.titleAnálise do comportamento de conectores SMD injetados com polietileno e irradiados após a soldagem sem chumbo
dc.title.alternativeAnalysis of the behavior of SMD connectors injected with polyethylene and irradiated after lead-free soldering
dc.typeDissertação
dspace.entity.typePublication
ipen.autorTANIA MARIA SILVA ZERBATO
ipen.codigoautor15358
ipen.contributor.ipenauthorTANIA MARIA SILVA ZERBATO
ipen.identifier.ipendoc31580
ipen.meioeletronicohttps://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85131/tde-20022025-144210/pt-br.php
ipen.type.genreDissertação
relation.isAuthorOfPublication23fdd6d1-89f1-46e2-b07f-ca8a67702edd
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sigepi.autor.atividadeTANIA MARIA SILVA ZERBATO:15358:220:N

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