Estudo da distribuicao e cristalizacao de fase amorfa nos contornos de grao de beta-sialon contendo Ysub(2)Osub(2)

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dc.contributor.authorBRESSIANI, J.C.pt_BR
dc.contributor.authorBRESSIANI, A.H.A.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.evento10th COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICApt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T11:31:47Zpt_BR
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dc.date.eventoSept. 1-6, 1985pt_BR
dc.identifier.citationBRESSIANI, J.C.; BRESSIANI, A.H.A. Estudo da distribuicao e cristalizacao de fase amorfa nos contornos de grao de beta-sialon contendo Ysub(2)Osub(2). In: 10th COLOQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROSCOPIA ELETRONICA, Sept. 1-6, 1985, Sao Paulo, SP, Brazil. <b>summary...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/20912.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/20912pt_BR
dc.local.eventoSao Paulo, SP, Brazilpt_BR
dc.rightsopenAccess
dc.subjectamorphous statept_BR
dc.subjectcrystallizationpt_BR
dc.subjectgrain boundariespt_BR
dc.subjectsilicon nitridespt_BR
dc.subjectyttrium oxidespt_BR
dc.titleEstudo da distribuicao e cristalizacao de fase amorfa nos contornos de grao de beta-sialon contendo Ysub(2)Osub(2)pt_BR
dc.typeResumo de eventos científicospt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorANA HELENA DE ALMEIDA BRESSIANI
ipen.autorJOSE CARLOS BRESSIANI
ipen.codigoautor96
ipen.codigoautor1459
ipen.contributor.ipenauthorANA HELENA DE ALMEIDA BRESSIANI
ipen.contributor.ipenauthorJOSE CARLOS BRESSIANI
ipen.date.recebimento86-12pt_BR
ipen.event.datapadronizada1985pt_BR
ipen.identifier.ipendoc02429pt_BR
ipen.notas.internassummarypt_BR
ipen.type.genreResumo
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relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscoveryf9cbec71-8864-4175-998d-637777f90c2d
sigepi.autor.atividadeBRESSIANI, J.C.:1459:-1:Spt_BR
sigepi.autor.atividadeBRESSIANI, A.H.A.:96:-1:Npt_BR

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