Tecnicas de microscopia eletronica na caracterizacao de materiais

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dc.contributor.authorMONTEIRO, W.A.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.evento16o. ENCONTRO NACIONAL DE FISICA DA MATERIA CONDENSADApt_BR
dc.date.accessioned2014-11-19T11:37:12Zpt_BR
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dc.date.evento18-22 de maio, 1993pt_BR
dc.format.extent199pt_BR
dc.identifier.citationMONTEIRO, W.A. Tecnicas de microscopia eletronica na caracterizacao de materiais. In: 16o. ENCONTRO NACIONAL DE FISICA DA MATERIA CONDENSADA, 18-22 de maio, 1993, Caxambu, MG. p. 199. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21385.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21385pt_BR
dc.local.eventoCaxambu, MGpt_BR
dc.subjectmaterialspt_BR
dc.subjectelectron microscopypt_BR
dc.titleTecnicas de microscopia eletronica na caracterizacao de materiaispt_BR
dc.typeResumo de eventos científicospt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorWALDEMAR ALFREDO MONTEIRO
ipen.codigoautor982
ipen.contributor.ipenauthorWALDEMAR ALFREDO MONTEIRO
ipen.date.recebimento93-07pt_BR
ipen.event.datapadronizada1993pt_BR
ipen.identifier.ipendoc04839pt_BR
ipen.type.genreResumo
relation.isAuthorOfPublication5a26fe3e-3f2b-415a-a692-8d1075ce58ed
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sigepi.autor.atividadeMONTEIRO, W.A.:982:-1:Spt_BR

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