Caracterização do jade e dos silicatos da familia do jade para aplicação em dosimetria das radiações

dc.contributor.advisorLinda Viola Ehlin Caldaspt_BR
dc.contributor.authorMELO, ADEILSON P. dept_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T12:53:09Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T13:58:29Z
dc.date.available2014-10-09T12:53:09Zpt_BR
dc.date.available2014-10-09T13:58:29Z
dc.date.issued2007pt_BR
dc.description.abstractAs propriedades dosimétricas principais do jade e dos silicatos brasileiros da família do jade foram estudadas para aplicações em processos de radiação de doses altas. Jade é uma denominação comum a dois silicatos diferentes: jadeita, NaAl(Si2O6), e nefrita, Ca2(Mg, Fe)5(Si4O11)2 (OH)2, que pertencem respectivamente à subclasse dos piroxênios e anfibólios. As amostras de jade, estudadas neste trabalho, são provenientes da Áustria, Nova Zelândia, Estados Unidos e Brasil. Os silicatos brasileiros da família do jade estudados neste trabalho foram os anfibólios: tremolita,Ca2Mg5(Si4O11)2(OH)2 e actinolita, Ca2Fe5(Si4O11)2(OH)2; e os piroxênios: rodonita, MnSiO3 e diopsídio, CaMg(Si2O6). A composição mineralógica e química foi obtida pelas técnicas de análise por ativação com nêutrons e difração de raios X. As propriedades dosimétricas principais (curvas de emissão, curvas de calibração, dose mínima detectável, dependência angular e energética, entre outras) foram estudadas, utilizando as técnicas de termoluminescência, emissão exoeletrônica termicamente estimulada e ressonância paramagnética eletrônica. As amostras de jade-Teflon e as amostras de silicatos-Teflon apresentam pelo menos dois picos TL, um em torno de 115°C (pico 1) e outro próximo de 210°C (pico 2). As curvas de calibração (TL) dos materiais estudados apresentaram comportamento linear na faixa de 0,5Gy a 1kGy. O pico de emissão TSEE ocorre em 240°C para todas as amostras e as curvas de calibração apresentaram comportamento sublinear na faixa entre 100Gy e 20kGy. No caso da técnica de RPE, apenas o jade originário dos Estados Unidos tem potencial de aplicação em dosimetria das radiações. Além disso, ainda foi realizada uma simulação computacional estática dos prováveis defeitos intrínsecos e extrínsecos presentes na rodonita. Entre os defeitos básicos, o defeito Schottky do MnSiO3 é o mais provável de ocorrer e, entre os defeitos extrínsecos, os dopantes bivalentes e trivalentes apresentam uma possibilidade maior de inserção na rodonita.pt_BR
dc.description.notasgeraisTese (Doutoramento)pt_BR
dc.description.notasteseIPEN/Tpt_BR
dc.description.teseinstituicaoInstituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN/CNEN-SPpt_BR
dc.identifier.citationMELO, ADEILSON P. de. <b>Caracterização do jade e dos silicatos da familia do jade para aplicação em dosimetria das radiações</b>. Orientador: Linda Viola Ehlin Caldas. 2007. Tese (Doutoramento) - Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN/CNEN-SP, São Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/T.85.2007.tde-29112007-153023">10.11606/T.85.2007.tde-29112007-153023</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11550.
dc.identifier.doi10.11606/T.85.2007.tde-29112007-153023
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/11550pt_BR
dc.localSão Paulopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectsilicate mineralspt_BR
dc.subjectdosimetrypt_BR
dc.subjectneutron activation analysispt_BR
dc.subjectx-ray diffractionpt_BR
dc.subjectthermoluminescencept_BR
dc.titleCaracterização do jade e dos silicatos da familia do jade para aplicação em dosimetria das radiaçõespt_BR
dc.typeTesept_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorADEILSON PESSOA DE MELO
ipen.codigoautor3226
ipen.contributor.ipenauthorADEILSON PESSOA DE MELO
ipen.date.recebimento07-06pt_BR
ipen.identifier.inisS61pt_BR
ipen.identifier.ipendoc11657pt_BR
ipen.identifier.localizacaoT539.12.08 / M528cpt_BR
ipen.meioeletronicohttp://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85131/tde-29112007-153023/pt_BR
ipen.type.genreTese
relation.isAuthorOfPublicationdf7b0d51-975e-4772-a9ad-685a740c6f46
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sigepi.autor.atividadeMELO, ADEILSON P. DE:3226:28:Spt_BR

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