Impacto dosimétrico de curvas CT-to-ED em irradiações de heterogeneidades de alto número atômico

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Com a evolução dos sistemas de planejamento e a redução das incertezas no cálculo de dose, a correção de heterogeneidades se tornou necessária. A presença de ligas metálicas de alta densidade ainda é uma das limitações e fonte de imprecisão no cálculo de dose. Embora existam algoritmos de cálculo de dose precisos, a principal dificuldade está no estabelecimento de curvas de correção do número de Hounsfield (HU) para densidade eletrônica (CT-to-ED), para valores de HU apropriados. A maioria dos tomógrafos atuais trabalha em 12 bits, saturando o número de Hounsfield em torno de 3000 HU, sendo insuficiente para a maioria dos materiais de alto número atômico. No entanto, já existem equipamentos que operam com 16 bits e que não saturam na presença destes materiais, resultando em informações mais completas das propriedades físicas. O objetivo deste trabalho é avaliar, em irradiações de heterogeneidades de alto Z, o impacto dosimétrico quando são utilizadas curvas de correção que incluem altos valores de HU. Foram analisados os fatores que influenciam a construção da curva CT-to-ED e as fontes de incerteza no processo. As curvas foram introduzidas no sistema de planejamento e os resultados comparados com medidas experimentais. Os resultados indicaram que quando materiais de alto número atômico são incluídos na construção da curva CT-to-ED, existe uma dependência dessas curvas com a energia do tomógrafo. Observou-se uma maior concordância entre os dados medidos experimentalmente e os dados calculados, quando as curvas CT-to-ED expandidas para altos valores de HU são utilizadas pelos sistemas de planejamento.

Como referenciar
RODRIGUES, BRUNO L.; BERTOTTI, VICTOR A.; FLOSI, ADRIANA A.; YORIYAZ, HELIO; NUNES, MAIRA G.; MAISTRO, CARLOS E.B. Impacto dosimétrico de curvas CT-to-ED em irradiações de heterogeneidades de alto número atômico. Revista Brasileira de Física Médica, v. 14, p. 1-9, 2020. DOI: 10.29384/rbfm.2020.v14.19849001578. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/31817. Acesso em: 20 Mar 2026.
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