Semiconductor properties of Cu-based delafossites revealed by an electric field gradient study

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LALIC, M.V.; MESTNIK FILHO, J. Semiconductor properties of Cu-based delafossites revealed by an electric field gradient study. Journal of Physics: Condensed Matter, v. 18, p. p. 1619-1628, 2006. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/5384. Acesso em: 30 Dec 2025.
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