Aplicacao da Fluorescencia de Raios X (WDXRFS) para a determinacao da espessura de filmes finos
Carregando...
Data
Data de publicação
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
Revista Brasileira de Pesquisa e Desenvolvimento
Exportar
Como referenciar
SCAPIN, V.O.; SCAPIN, M.A.; SALVADOR, V.L.R.; LIMA, N.B.; MITANI, S.E.; SAMAD, R.E. Aplicacao da Fluorescencia de Raios X (WDXRFS) para a determinacao da espessura de filmes finos. Revista Brasileira de Pesquisa e Desenvolvimento, v. 4, n. 3, p. 1015-1018, 2002. Parte 1. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/5973. Acesso em: 20 Mar 2026.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.