Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração

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dc.contributor.advisorLuis Gallego Martinezpt_BR
dc.contributor.authorICHIKAWA, RODRIGO U.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T12:42:15Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T14:05:30Z
dc.date.available2014-10-09T12:42:15Zpt_BR
dc.date.available2014-10-09T14:05:30Z
dc.date.issued2013pt_BR
dc.description.abstractO objetivo deste trabalho foi desenvolver e implementar uma metodologia envolvendo a análise de perfis de difração de raios X (X-ray Line Profile Analysis - XLPA) para o estudo e determinação do tamanho médio de cristalitos e microdeformação em materiais. Para isto houve o desenvolvimento de um programa computacional para facilitar o tratamento dos picos presentes em um difratograma e realizar a deconvolução de perfis através do Método de Stokes para se corrigir a contribuição instrumental nos perfis de difração. Os métodos de XLPA de espaço real estudados e aplicados neste trabalho foram os métodos de Scherrer, Williamson-Hall e Single-Line (ou Linha Única) e o método de Warren-Averbach de espaço de Fourier. Além disso, utilizando-se um modelamento matemático foi possível calcular a distribuição de tamanhos de cristalitos para um caso isotrópico, onde considerou-se a distribuição log-normal e cristalitos com forma esférica. Foi possível demonstrar que a teoria proposta pode ser considerada como uma boa aproximação avaliando-se uma razão de dispersão. As metodologias descritas acima foram aplicadas em dois materiais distintos: na liga metálica Zircaloy-4 e em ZnO.pt_BR
dc.description.notasgeraisDissertação (Mestrado)pt_BR
dc.description.notasteseIPEN/Dpt_BR
dc.description.teseinstituicaoInstituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SPpt_BR
dc.format.extent94pt_BR
dc.identifier.citationICHIKAWA, RODRIGO U. <b>Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração</b>. Orientador: Luis Gallego Martinez. 2013. 94 f. Dissertação (Mestrado) - Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, São Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/D.85.2013.tde-10012014-103427">10.11606/D.85.2013.tde-10012014-103427</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10585.
dc.identifier.doi10.11606/D.85.2013.tde-10012014-103427
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10585pt_BR
dc.localSão Paulopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectcrystallographypt_BR
dc.subjectfourier analysispt_BR
dc.subjectchemical analysispt_BR
dc.subjectx-ray diffractionpt_BR
dc.subjectmicrostructurept_BR
dc.subjectzircaloypt_BR
dc.subjectyttrium oxidespt_BR
dc.subjectzinc oxidespt_BR
dc.subjectcomputer codespt_BR
dc.titleAplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difraçãopt_BR
dc.title.alternativeApplications of the Warren-Averbach method of X-ray diffraction line profile analysispt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorRODRIGO UCHIDA ICHIKAWA
ipen.codigoautor10118
ipen.contributor.ipenauthorRODRIGO UCHIDA ICHIKAWA
ipen.date.recebimento14-02pt_BR
ipen.identifier.ipendoc19883pt_BR
ipen.identifier.localizacaoT620.1: / I16apt_BR
ipen.meioeletronicohttp://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/pt-br.phppt_BR
ipen.type.genreDissertação
relation.isAuthorOfPublication0f8315c9-e186-43ee-ba65-2c03092b4d04
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sigepi.autor.atividadeICHIKAWA, RODRIGO U.:10118:730:Spt_BR
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