Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração
dc.contributor.advisor | Luis Gallego Martinez | pt_BR |
dc.contributor.author | ICHIKAWA, RODRIGO U. | pt_BR |
dc.coverage | Nacional | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2014-10-09T12:42:15Z | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2014-10-09T14:05:30Z | |
dc.date.available | 2014-10-09T12:42:15Z | pt_BR |
dc.date.available | 2014-10-09T14:05:30Z | |
dc.date.issued | 2013 | pt_BR |
dc.description.abstract | O objetivo deste trabalho foi desenvolver e implementar uma metodologia envolvendo a análise de perfis de difração de raios X (X-ray Line Profile Analysis - XLPA) para o estudo e determinação do tamanho médio de cristalitos e microdeformação em materiais. Para isto houve o desenvolvimento de um programa computacional para facilitar o tratamento dos picos presentes em um difratograma e realizar a deconvolução de perfis através do Método de Stokes para se corrigir a contribuição instrumental nos perfis de difração. Os métodos de XLPA de espaço real estudados e aplicados neste trabalho foram os métodos de Scherrer, Williamson-Hall e Single-Line (ou Linha Única) e o método de Warren-Averbach de espaço de Fourier. Além disso, utilizando-se um modelamento matemático foi possível calcular a distribuição de tamanhos de cristalitos para um caso isotrópico, onde considerou-se a distribuição log-normal e cristalitos com forma esférica. Foi possível demonstrar que a teoria proposta pode ser considerada como uma boa aproximação avaliando-se uma razão de dispersão. As metodologias descritas acima foram aplicadas em dois materiais distintos: na liga metálica Zircaloy-4 e em ZnO. | pt_BR |
dc.description.notasgerais | Dissertação (Mestrado) | pt_BR |
dc.description.notastese | IPEN/D | pt_BR |
dc.description.teseinstituicao | Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP | pt_BR |
dc.format.extent | 94 | pt_BR |
dc.identifier.citation | ICHIKAWA, RODRIGO U. <b>Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração</b>. Orientador: Luis Gallego Martinez. 2013. 94 f. Dissertação (Mestrado) - Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, São Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/D.85.2013.tde-10012014-103427">10.11606/D.85.2013.tde-10012014-103427</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10585. | |
dc.identifier.doi | 10.11606/D.85.2013.tde-10012014-103427 | |
dc.identifier.uri | http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10585 | pt_BR |
dc.local | São Paulo | pt_BR |
dc.rights | openAccess | pt_BR |
dc.subject | crystallography | pt_BR |
dc.subject | fourier analysis | pt_BR |
dc.subject | chemical analysis | pt_BR |
dc.subject | x-ray diffraction | pt_BR |
dc.subject | microstructure | pt_BR |
dc.subject | zircaloy | pt_BR |
dc.subject | yttrium oxides | pt_BR |
dc.subject | zinc oxides | pt_BR |
dc.subject | computer codes | pt_BR |
dc.title | Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração | pt_BR |
dc.title.alternative | Applications of the Warren-Averbach method of X-ray diffraction line profile analysis | pt_BR |
dc.type | Dissertação | pt_BR |
dspace.entity.type | Publication | |
ipen.autor | RODRIGO UCHIDA ICHIKAWA | |
ipen.codigoautor | 10118 | |
ipen.contributor.ipenauthor | RODRIGO UCHIDA ICHIKAWA | |
ipen.date.recebimento | 14-02 | pt_BR |
ipen.identifier.ipendoc | 19883 | pt_BR |
ipen.identifier.localizacao | T620.1: / I16a | pt_BR |
ipen.meioeletronico | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/pt-br.php | pt_BR |
ipen.type.genre | Dissertação | |
relation.isAuthorOfPublication | 0f8315c9-e186-43ee-ba65-2c03092b4d04 | |
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery | 0f8315c9-e186-43ee-ba65-2c03092b4d04 | |
sigepi.autor.atividade | ICHIKAWA, RODRIGO U.:10118:730:S | pt_BR |