Analysis by the Rietveld method of pure and doped LiSrAlFsub(6) and LiCaAlFsub(6) crystals at different temperatures
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2001
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INTERNATIONAL CONFERENCE ON CRYSTAL GROWTH, 13th
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MAZZOCCHI, V.L.; BALDOCHI, S.L.; RUIZ, M.C.H.M.; PARENTE, C.B.R.; PAIVA SANTOS, C.O.; SANTILLI, C.V.; SHIMAMURA, K.; FUKUDA, T. Analysis by the Rietveld method of pure and doped LiSrAlFsub(6) and LiCaAlFsub(6) crystals at different temperatures. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON CRYSTAL GROWTH, 13th, 2001, Kioto, Japan. Abstracts... p. 85. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/20796. Acesso em: 26 Mar 2026.
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