Aplicacao da Fluorescencia de Raios X (WDXRFS) para a determinacao da espessura de filmes finos
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2002
Autores IPEN
VERA LUCIA RIBEIRO SALVADOR
MARCOS ANTONIO SCAPIN
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INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; NATIONAL MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 6th
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SCAPIN, V.O.; SCAPIN, M.A.; SALVADOR, V.L.R.; LIMA, N.B.; MITANI, S.E.; SAMAD, R.E. Aplicacao da Fluorescencia de Raios X (WDXRFS) para a determinacao da espessura de filmes finos. In: INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; NATIONAL MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 6th, Aug. 11-16, 2002, Rio de Janeiro, RJ. Proceedings... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17017. Acesso em: 09 Nov 2026.
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