Aplicacao da Fluorescencia de Raios X (WDXRFS) para a determinacao da espessura de filmes finos
dc.contributor.author | SCAPIN, V.O. | pt_BR |
dc.contributor.author | SCAPIN, M.A. | pt_BR |
dc.contributor.author | SALVADOR, V.L.R. | pt_BR |
dc.contributor.author | LIMA, N.B. | pt_BR |
dc.contributor.author | MITANI, S.E. | pt_BR |
dc.contributor.author | SAMAD, R.E. | pt_BR |
dc.coverage | Internacional | pt_BR |
dc.creator.evento | INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; NATIONAL MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 6th | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2014-11-17T18:26:27Z | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2014-11-18T18:46:44Z | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2015-04-01T22:09:31Z | |
dc.date.available | 2014-11-17T18:26:27Z | pt_BR |
dc.date.available | 2014-11-18T18:46:44Z | pt_BR |
dc.date.available | 2015-04-01T22:09:31Z | |
dc.date.evento | Aug. 11-16, 2002 | pt_BR |
dc.event.sigla | INAC 2002;ENAN,6 | pt_BR |
dc.identifier.citation | SCAPIN, V.O.; SCAPIN, M.A.; SALVADOR, V.L.R.; LIMA, N.B.; MITANI, S.E.; SAMAD, R.E. Aplicacao da Fluorescencia de Raios X (WDXRFS) para a determinacao da espessura de filmes finos. In: INTERNATIONAL NUCLEAR ATLANTIC CONFERENCE; NATIONAL MEETING ON NUCLEAR APPLICATIONS, 6th, Aug. 11-16, 2002, Rio de Janeiro, RJ. <b>Proceedings...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17017. | |
dc.identifier.orcid | https://orcid.org/0000-0001-7762-8961 | |
dc.identifier.orcid | https://orcid.org/0000-0002-6444-9224 | |
dc.identifier.orcid | https://orcid.org/0000-0002-0606-4369 | |
dc.identifier.uri | http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17017 | pt_BR |
dc.local.evento | Rio de Janeiro, RJ | pt_BR |
dc.publisher | Rio de Janeiro: ABEN, 2002 | pt_BR |
dc.rights | openAccess | pt_BR |
dc.source | Publicado tambem em: Rev. Bras. Pesqui. Desenvolv., v. 4, n. 3, p. 1015-1018, set. 2002. Parte 1 | pt_BR |
dc.subject | x-ray fluorescence analysis | pt_BR |
dc.subject | thin films | pt_BR |
dc.subject | nickel | pt_BR |
dc.subject | thickness | pt_BR |
dc.title | Aplicacao da Fluorescencia de Raios X (WDXRFS) para a determinacao da espessura de filmes finos | pt_BR |
dc.type | Texto completo de evento | pt_BR |
dspace.entity.type | Publication | |
ipen.autor | SOLANGE EIKO MITANI | |
ipen.autor | RICARDO ELGUL SAMAD | |
ipen.autor | NELSON BATISTA DE LIMA | |
ipen.autor | VERA LUCIA RIBEIRO SALVADOR | |
ipen.autor | MARCOS ANTONIO SCAPIN | |
ipen.autor | VALDIRENE DE OLIVEIRA SCAPIN | |
ipen.codigoautor | 4 | |
ipen.codigoautor | 909 | |
ipen.codigoautor | 550 | |
ipen.codigoautor | 278 | |
ipen.codigoautor | 836 | |
ipen.codigoautor | 1691 | |
ipen.contributor.ipenauthor | SOLANGE EIKO MITANI | |
ipen.contributor.ipenauthor | RICARDO ELGUL SAMAD | |
ipen.contributor.ipenauthor | NELSON BATISTA DE LIMA | |
ipen.contributor.ipenauthor | VERA LUCIA RIBEIRO SALVADOR | |
ipen.contributor.ipenauthor | MARCOS ANTONIO SCAPIN | |
ipen.contributor.ipenauthor | VALDIRENE DE OLIVEIRA SCAPIN | |
ipen.date.recebimento | 03-03 | pt_BR |
ipen.event.datapadronizada | 2002 | pt_BR |
ipen.identifier.ipendoc | 08746 | pt_BR |
ipen.notas.internas | Proceedings | pt_BR |
ipen.type.genre | Artigo | |
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sigepi.autor.atividade | SCAPIN, V.O.:1691:-1:S | pt_BR |
sigepi.autor.atividade | SCAPIN, M.A.:836:38:N | pt_BR |
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sigepi.autor.atividade | MITANI, S.E.:4:29:N | pt_BR |
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