Structural, dielectric and ferroelectric properties of mixed texture PbZr0.20Ti0.80O3 thin films prepared by a chemical method
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MENDES, R.G.; BACICHETTI, A.L.; MIR, M.; LIMA, N.B.; MASCARENHAS, Y.P.; EIRAS, J.A. Structural, dielectric and ferroelectric properties of mixed texture PbZr0.20Ti0.80O3 thin films prepared by a chemical method. Ferroelectrics, v. 335, p. 249-255, 2006. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/26700. Acesso em: 31 Dec 2025.
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