Rietveld refinement of Nd and Pr doped BaYsub(2)Fsub(8) single crystals employing neutron powder diffraction patterns

Carregando...
Imagem de Miniatura

Data

Data de publicação

2008

Orientador

Título da Revista

ISSN da Revista

Título do Volume

É parte de

É parte de

É parte de

É parte de

INTERNATIONAL CONFERENCE ON DEFECTS IN INSULATING MATERIALS, 16th
Exportar
Mendeley

Projetos de Pesquisa

Unidades Organizacionais

Fascículo


Como referenciar
MAZZOCCHI, V.L.; MESTNIK FILHO, J.; PARENTE, C.B.R.; CRUZ, S.F.A.; BALDOCHI, S.L. Rietveld refinement of Nd and Pr doped BaYsub(2)Fsub(8) single crystals employing neutron powder diffraction patterns. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON DEFECTS IN INSULATING MATERIALS, 16th, August 24-29, 2008, Aracaju, SE. Abstract... Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/22356. Acesso em: 30 Dec 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.

Agência de fomento