Desenvolvimento de dosimetros com diodos de Si resistentes a radiacao para dosimetria de altas doses

dc.contributor.advisorCarmen Cecilia Buenopt_BR
dc.contributor.authorCAMARGO, FABIO dept_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T12:27:02Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T14:03:49Z
dc.date.available2014-10-09T12:27:02Zpt_BR
dc.date.available2014-10-09T14:03:49Z
dc.date.issued2009pt_BR
dc.description.abstractNeste trabalho são apresentados os resultados obtidos com diodos resistentes a danos de radiação dos tipos fusão zonal padrão (FZ), fusão zonaI com difusão de oxigênio (DOFZ) e Czochralski magnético (MCz) em dosimetria de processamento por radiação gama. Estes dispositivos de junção p+-n-n+ foram manufaturados por Okmetic Oyj. (Vantaa, Finland) e processados no Centro de Microeletrônica da Universidade de Tecnologia de Helsinki no âmbito da colaboração RD50 do CERN. As sondas dosimétricas, baseadas nos dispositivos FZ, DOFZ and MCz, foram projetadas para operar sem tensão de polarização no modo de corrente direta como dosímetros on-line de radiação. As irradiações foram realizadas no Centro de Tecnologia das Radiações (CTR) no IPEN-CNEN/SP usando a fonte de 60Co (Gammacell 220 Nordion) com a taxa de dose de aproximadamente 2,4 kGy/h. A resposta em corrente de cada diodo foi medida em função do tempo de exposição em intervalos de dose desde 5 kGy até 50 kGy atingindo a dose total absorvida 275 kGy. Os resultados obtidos demonstraram um significante decréscimo da fotocorrente gerada em todos os dispositivos para doses totais absorvidas superiores a aproximadamente 25 kGy. Para reduzir este efeito, as amostras foram pré-irradiadas com raios gama do 60Co a uma dose de 700 kGy, para saturar a produção de armadilhas no volume sensível do diodo. Depois da pré-irradiação, apesar de serem menos sensíveis, todos os dispositivos apresentaram sinais de corrente estáveis mesmo para a dose total absorvida de 275 kGy. A fim de monitorar possíveis efeitos de danos de radiação VII produzidos nos diodos, as correntes de fuga e capacitância destes dispositivos foram medidas em função da dose total absorvida. As curvas de calibração dos dosímetros mostraram respostas quadráticas com coeficientes de correlação maiores do que 0,9999 para doses totais absorvidas de até 275 kGy. A comparação entre as respostas dosimétricas dos diodos estudados evidenciou que o melhor resultado foi obtido com o MCz que exibiu maiores sensibilidade e estabilidade do que os dispositivos FZ e DOFZ. No entanto, é importante notar que todos os diodos pré-irradiados podem ser utilizados como dosímetros em aplicações de processamento por radiação gama.pt_BR
dc.description.notasgeraisTese (Doutoramento)pt_BR
dc.description.notasteseIPEN/Tpt_BR
dc.description.sponsorshipFundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)pt_BR
dc.description.sponsorshipIDFAPESP:05/00258-1pt_BR
dc.description.teseinstituicaoInstituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SPpt_BR
dc.format.extent107pt_BR
dc.identifier.citationCAMARGO, FABIO de. <b>Desenvolvimento de dosimetros com diodos de Si resistentes a radiacao para dosimetria de altas doses</b>. Orientador: Carmen Cecilia Bueno Tobias. 2009. 107 f. Tese (Doutoramento) - Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, Sao Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/T.85.2009.tde-07122009-142809">10.11606/T.85.2009.tde-07122009-142809</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/9466.
dc.identifier.doi10.11606/T.85.2009.tde-07122009-142809
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/9466pt_BR
dc.localSao Paulopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectgamma radiationpt_BR
dc.subjectcobalt 60pt_BR
dc.subjectgamma dosimetrypt_BR
dc.subjectradiation dosespt_BR
dc.subjectradiation effectspt_BR
dc.subjectsilicon diodespt_BR
dc.titleDesenvolvimento de dosimetros com diodos de Si resistentes a radiacao para dosimetria de altas dosespt_BR
dc.title.alternativeDevelopment of dosimeters with rad-hard silicon diodes for high dose dosimetrypt_BR
dc.typeTesept_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorFABIO DE CAMARGO
ipen.codigoautor2764
ipen.contributor.ipenauthorFABIO DE CAMARGO
ipen.date.recebimento09-12pt_BR
ipen.identifier.inisS46pt_BR
ipen.identifier.ipendoc14278pt_BR
ipen.identifier.localizacaoT539.12 / C172dpt_BR
ipen.meioeletronicohttp://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85131/tde-07122009-142809/pt-br.phppt_BR
ipen.type.genreTese
relation.isAuthorOfPublicationbf2a9a35-1434-4c5d-9bf8-a87d542cb728
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sigepi.autor.atividadeCAMARGO, FABIO DE:2764:-1:Spt_BR

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