Uso de diodos epitaxiais de Si em dosimetria de fótons

dc.contributor.advisorJosemary Angelica Correa Goncalvespt_BR
dc.contributor.authorPEREIRA, LILIAN N.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T12:42:13Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T14:04:34Z
dc.date.available2014-10-09T12:42:13Zpt_BR
dc.date.available2014-10-09T14:04:34Z
dc.date.issued2013pt_BR
dc.description.abstractNeste trabalho são apresentados os resultados da caracterização dosimétrica de dois diodos especiais de silício, resistentes a danos de radiação, crescidos pelo método epitaxial com vistas a sua aplicação na monitoração em tempo real de feixes de fótons de qualidades de radiodiagnóstico convencional, mamografia e tomografia computadorizada, no intervalo de tensão de 28 kV a 150 kV. Os dispositivos utilizados, um submetido à pré-dose de 200 kGy de raios gama do 60Co no Centro de Tecnologia das Radiações (CTR) do IPENCNEN/ SP, e outro sem qualquer irradiação prévia, foram processados na Universidade de Hamburgo a partir de uma camada epitaxial com 50 μm de espessura. Apenas para comparação, um diodo de Si crescido por fusão zonal padrão foi também estudado. As irradiações foram realizadas no Laboratório de Calibração de Instrumentos (LCI) do IPEN/CNEN-SP, onde está instalado um gerador de radiação X, Pantak-Seifert, Isovolt 160 HS, cujas qualidades de radiação foram verificadas por câmaras de ionização padronizadas. Os diodos foram ligados a um eletrômetro Keithley 6517B em modo fotovoltaico, com a distância do ponto focal do gerador aos diodos mantida em 1 m. Os principais parâmetros dosimétricos das amostras foram avaliados de acordo com a norma IEC61674. Os coeficientes de calibração dos diodos em termos do kerma no ar também foram determinados. Os diodos apresentaram excelente estabilidade de resposta em curto prazo para as qualidades estudadas, com coeficientes de variação em corrente equivalentes e não superiores a 0,3%. O comportamento das fotocorrentes em função da taxa de dose foi linear para os três dispositivos no intervalo de 0,8 a 77,2 mGy/min. As curvas carga-dose obtidas pela integração dos sinais de corrente tornaram evidente a ausência de dependência energética para feixes de mamografia e de radiodiagnóstico até 70 kV. O diodo epitaxial sem pré-dose apresentou maior sensibilidade em corrente e em carga em relação aos demais, com queda neste parâmetro de 8% após receber dose acumulada de 49 Gy. Até este limite de dose, as correntes de fuga dos dispositivos mantiveram-se estáveis em cerca de 0,4 pA ao longo das irradiações, sendo menores por um fator até 104 em relação às correntes em condição de irradiação. A variação da resposta direcional de ambos diodos para o intervalo de ± 5° foi inferior a 0,1 % e seus coeficientes de calibração para os feixes estudados foram determinados a partir dos padrões de referência do LCI. As alterações das características elétricas das amostras em função de danos de radiação foram também estudadas e não revelaram alteração significativa para tensão de polarização nula. Com base nos resultados obtidos até o presente e considerando as recomendações da norma IEC 61674, pode-se afirmar que diodos epitaxiais sem pré-dose e com pré-dose podem ser empregados de forma confiável na dosimetria de feixes de radiação eletromagnética para imagens médicas até o limite de dose acumulada de 10 Gy e acima de 206 kGy, respectivamente.pt_BR
dc.description.notasgeraisDissertação (Mestrado)pt_BR
dc.description.notasteseIPEN/Dpt_BR
dc.description.teseinstituicaoInstituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SPpt_BR
dc.format.extent89pt_BR
dc.identifier.citationPEREIRA, LILIAN N. <b>Uso de diodos epitaxiais de Si em dosimetria de fótons</b>. Orientador: Josemary Angelica Correa Goncalves. 2013. 89 f. Dissertação (Mestrado) - Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, São Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/D.85.2013.tde-28012014-081211">10.11606/D.85.2013.tde-28012014-081211</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10581.
dc.identifier.doi10.11606/D.85.2013.tde-28012014-081211
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10581pt_BR
dc.localSão Paulopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectsilicon diodespt_BR
dc.subjectepitaxypt_BR
dc.subjectsi semiconductor detectorspt_BR
dc.subjectelectron beamspt_BR
dc.subjectx-ray diffractionpt_BR
dc.subjectphoton beamspt_BR
dc.subjectdosimetrypt_BR
dc.subjectradiation dose unitspt_BR
dc.subjectphoton computed tomographypt_BR
dc.subjecton-line measurement systemspt_BR
dc.subjectimage processingpt_BR
dc.titleUso de diodos epitaxiais de Si em dosimetria de fótonspt_BR
dc.title.alternativeUse of epitaxial silicon diodes in photon dosimetrypt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorLILIAN NUNES PEREIRA
ipen.codigoautor10205
ipen.contributor.ipenauthorLILIAN NUNES PEREIRA
ipen.date.recebimento14-02pt_BR
ipen.identifier.ipendoc19890pt_BR
ipen.identifier.localizacaoT615.849: / P436upt_BR
ipen.meioeletronicohttp://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85131/tde-28012014-081211/pt-br.phppt_BR
ipen.type.genreDissertação
relation.isAuthorOfPublication9bdf3f13-78f0-4f72-b579-1bd07e4a53e3
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sigepi.autor.atividadePEREIRA, LILIAN N.:10205:240:Spt_BR

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