Avaliação dosimétrica de detectores semicondutores para aplicação na dosimetria e microdosimetria de nêutrons em reatores nucleares e instalações de radiocirurgia

dc.contributor.advisorLeticia Lucente Campos Rodriguespt_BR
dc.contributor.authorNAHUEL CARDENAS, JOSE P.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T12:27:41Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T14:05:28Z
dc.date.available2014-10-09T12:27:41Zpt_BR
dc.date.available2014-10-09T14:05:28Z
dc.date.issued2010pt_BR
dc.description.abstractEste trabalho tem como objetivo a avaliação dosimétrica de componentes semicondutores (detectores Barreira de Superfície e fotodiodos PIN) para aplicação em medições de dose equivalente em campos de baixo fluxo de nêutrons (rápidos e térmicos), utilizando uma fonte de AmBe de alto fluxo, a instalação de Neutrongrafia do reator IEA-R1 (fluxos térmicos/epitérmicos) e fluxo de nêutrons rápidos do núcleo do reator IPEN/MB-01 (UCRI Unidade Crítica). Para a detecção de nêutrons (térmicos, epitérmicos e rápidos) foram usados componentes moderadores e conversores (parafina, boro e polietileno). Os fluxos resultantes da moderação e conversão foram utilizados para a irradiação de componentes semicondutores (SSB - Barreira de Superfície e fotodiodos). Foi utilizado também um conversor misto constituído de uma folha de polietileno borado (marca Kodak). O método de simulação por Monte Carlo foi utilizado para avaliar de forma analítica a espessura ótima da parafina. O resultado obtido foi similar ao verificado experimentalmente e serviu para avaliar o fluxo de nêutrons emergentes do moderador (parafina). Da mesma forma, através de simulação, foi avaliado também o fluxo de nêutrons rápidos que atinge o conversor de polietileno que cobre a face sensível dos semicondutores. O nível de radiação gama foi avaliado cobrindo o detector por inteiro com uma folha de cádmio de 1 mm de espessura. O reator IPEN/MB-01 foi usado para avaliar a resposta dos detectores para nêutrons rápidos de alto fluxo. Os resultados, de uma forma geral, mostraram concordância e similaridade com os trabalhos desenvolvidos por outros grupos de pesquisas. Foi também estabelecida uma abordagem para o cálculo de dose equivalente utilizando os espectros obtidos nas experiências.pt_BR
dc.description.notasgeraisTese (Doutorado em Tecnologia Nuclear)pt_BR
dc.description.notasteseIPEN/Tpt_BR
dc.description.teseinstituicaoInstituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SPpt_BR
dc.format.extent149pt_BR
dc.identifier.citationNAHUEL CARDENAS, JOSE P. <b>Avaliação dosimétrica de detectores semicondutores para aplicação na dosimetria e microdosimetria de nêutrons em reatores nucleares e instalações de radiocirurgia</b>. Orientador: Leticia Lucente Campos Rodrigues. 2010. 149 f. Tese (Doutorado em Tecnologia Nuclear) - Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, Sao Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/T.85.2010.tde-20062011-153437">10.11606/T.85.2010.tde-20062011-153437</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/9531.
dc.identifier.doi10.11606/T.85.2010.tde-20062011-153437
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/9531pt_BR
dc.localSao Paulopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectdosemeterspt_BR
dc.subjectsemiconductor detectorspt_BR
dc.subjectneutron dosimetrypt_BR
dc.subjectmicrodosimetrypt_BR
dc.subjectreactorspt_BR
dc.subjectmonte carlo methodpt_BR
dc.titleAvaliação dosimétrica de detectores semicondutores para aplicação na dosimetria e microdosimetria de nêutrons em reatores nucleares e instalações de radiocirurgiapt_BR
dc.title.alternativeDosimetric evaluation of semiconductor detectors for application in neutron dosimetry and microdosimetry in nuclear reactor and radio surgical facilitiespt_BR
dc.typeTesept_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorJOSE PATRICIO NAHUEL CARDENAS
ipen.codigoautor1328
ipen.contributor.ipenauthorJOSE PATRICIO NAHUEL CARDENAS
ipen.date.recebimento10-07pt_BR
ipen.identifier.inisS46pt_BR
ipen.identifier.ipendoc15370pt_BR
ipen.identifier.localizacaoT539.12.08 / N154apt_BR
ipen.meioeletronicohttp://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85131/tde-20062011-153437/pt-br.phppt_BR
ipen.type.genreTese
relation.isAuthorOfPublicationcc496bda-6ca9-4c17-b940-e58b2ef867c2
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscoverycc496bda-6ca9-4c17-b940-e58b2ef867c2
sigepi.autor.atividadeNAHUEL CARDENAS, JOSE P.:1328:330:Spt_BR

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