Transmission electron microscopy in the microstructure study of electrical steel Fe-3 percent Si
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1998
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INTERNATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY, 14th
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RODRIGUES, V.A.; MONTEIRO, W.A.; SALIBA SILVA, A.M.; FERREIRA, N.A.M.; SILVA, L.C.E. Transmission electron microscopy in the microstructure study of electrical steel Fe-3 percent Si. In: CALDERON BENAVIDES, H.A. (ed.); YACAMAN, M.J. (ed.). In: INTERNATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY, 14th, Aug. 31 - Sept. 4, 1998, Cancun, Mexico. Proceedings... p. 235-236. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/21812. Acesso em: 30 Dec 2025.
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