A importância da metrologia na análise forense ambiental

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dc.contributor.authorBARBIERI, CRISTINA B.
dc.contributor.authorSARKIS, JORGE E. de S.
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.eventoCONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA, 9.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA MECANICA, 4.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELETRICA, 12.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA DAS RADIAÇOES IONIZANTES, 4.; WORKSHOP DA REDE DE METROLOGIA QUIMICA DO INMETRO, 3.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA OPTICA, 2.pt_BR
dc.date.accessioned2018-03-05T12:45:11Z
dc.date.available2018-03-05T12:45:11Z
dc.date.evento26-29 de novembro, 2017pt_BR
dc.event.siglaCBM; CIMMEC; SEMETRO; CBMRI; REMEQ-I; CBMOpt_BR
dc.format.extent65-65pt_BR
dc.identifier.citationBARBIERI, CRISTINA B.; SARKIS, JORGE E. de S. A importância da metrologia na análise forense ambiental: aplicação do ensaio duplicado para estimativa de incerteza de amostragem. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA, 9.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA MECANICA, 4.; CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELETRICA, 12.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA DAS RADIAÇOES IONIZANTES, 4.; WORKSHOP DA REDE DE METROLOGIA QUIMICA DO INMETRO, 3.; CONGRESSO BRASILEIRO DE METROLOGIA OPTICA, 2., 26-29 de novembro, 2017, Fortaleza, CE. <b>Resumo...</b> Rio de Janeiro, RJ: Sociedade Brasileira de Metrologia, 2017. p. 65-65. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/28633.
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-6745-8185
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/28633
dc.localRio de Janeiro, RJpt_BR
dc.local.eventoFortaleza, CEpt_BR
dc.publisherSociedade Brasileira de Metrologiapt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectenvironment
dc.subjectpollution
dc.subjectmetrology
dc.subjectcrime detection
dc.subjectdata covariances
dc.subjectuncertainty principle
dc.subjectsampling
dc.titleA importância da metrologia na análise forense ambientalpt_BR
dc.typeResumo de eventos científicospt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorJORGE EDUARDO DE SOUZA SARKIS
ipen.codigoautor1080
ipen.contributor.ipenauthorJORGE EDUARDO DE SOUZA SARKIS
ipen.date.recebimento18-03pt_BR
ipen.event.datapadronizada2017pt_BR
ipen.identifier.ipendoc24446pt_BR
ipen.notas.internasResumopt_BR
ipen.subtituloaplicação do ensaio duplicado para estimativa de incerteza de amostragempt_BR
ipen.type.genreResumo
relation.isAuthorOfPublicationad66e386-1f88-4fcc-b1d9-04bff1556e8e
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscoveryad66e386-1f88-4fcc-b1d9-04bff1556e8e
sigepi.autor.atividadeSARKIS, JORGE E. DE S.:1080:710:Npt_BR

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