Caracterização de um dispositivo de ensaio para determinação da camada semirredutora e da filtração com equivalência de qualidade de acordo com a norma ABNT NBR IEC 606001-1-3

dc.contributor.advisorMaria da Penha Albuquerque Potienspt_BR
dc.contributor.authorVIANA, VLAMIRpt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T12:35:12Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-10-09T13:56:40Z
dc.date.available2014-10-09T12:35:12Zpt_BR
dc.date.available2014-10-09T13:56:40Z
dc.date.issued2012pt_BR
dc.description.abstractA motivação deste trabalho foi o desenvolvimento e validação de um dispositivo para realizar os testes estabelecidos na ABNT NBR IEC 60601-1-3 nas versões publicadas de 2001[1] e 2011[2]. A finalidade dos ensaios é determinar a camada semirredutora - CSR (Half Value Layer - HVL) e a filtração com equivalência de qualidade, em mmAl, dos materiais que interceptam o feixe de raios X desde a sua emissão até o dispositivo receptor de imagem de raios X. Esta filtração inclui os materiais presentes no conjunto fonte de radiação X, formado pela cúpula de proteção radiológica com o tubo de raios X inserido, pelo sistema de colimação (filtração inerente) e pelos materiais presentes nos suportes de pacientes, como mesa e bucky mural sendo que ambos incorporam dispositivo receptor de imagem que também é avaliado. No desenvolvimento foi levada em consideração a rotina da execução do ensaio, com a finalidade de diminuir ao máximo a interação do operador com o sistema, a fim de reduzir o fator humano na execução, refletindo diretamente na incerteza de medição, na diminuição do tempo de execução e na segurança radiológica. O dispositivo desenvolvido foi validado com relação aos seguintes aspectos: a) Influência do dispositivo trocador de filtros quanto ao posicionamento e distribuição dos filtros; b) Influência da pureza dos filtros de alumínio utilizados no dispositivo, e a c) Comparação entre os ensaios realizados com dispositivo de ensaio desenvolvido com relação aos ensaios realizados com um gerador de raios X de referência.pt_BR
dc.description.notasgeraisDissertação (Mestrado)pt_BR
dc.description.notasteseIPEN/Dpt_BR
dc.description.teseinstituicaoInstituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SPpt_BR
dc.format.extent142pt_BR
dc.identifier.citationVIANA, VLAMIR. <b>Caracterização de um dispositivo de ensaio para determinação da camada semirredutora e da filtração com equivalência de qualidade de acordo com a norma ABNT NBR IEC 606001-1-3</b>. Orientador: Maria da Penha Albuquerque Potiens. 2012. 142 f. Dissertação (Mestrado) - Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP, São Paulo. DOI: <a href="https://dx.doi.org/10.11606/D.85.2012.tde-10122012-093250">10.11606/D.85.2012.tde-10122012-093250</a>. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10138.
dc.identifier.doi10.11606/D.85.2012.tde-10122012-093250
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10138pt_BR
dc.localSão Paulopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectfilterspt_BR
dc.subjectaluminium compoundspt_BR
dc.subjectx-ray tubespt_BR
dc.subjecthalf-lifept_BR
dc.subjectmaterials testingpt_BR
dc.subjectquality controlpt_BR
dc.subjectimagespt_BR
dc.subjectstandardizationpt_BR
dc.titleCaracterização de um dispositivo de ensaio para determinação da camada semirredutora e da filtração com equivalência de qualidade de acordo com a norma ABNT NBR IEC 606001-1-3pt_BR
dc.title.alternativeCharacterization of a test device for determination of the half vlue layer and of filtration with quality equity of materials in accordance with standard ABNT NBR IEC 606001-1-3pt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorVLAMIR VIANA
ipen.codigoautor8767
ipen.contributor.ipenauthorVLAMIR VIANA
ipen.date.recebimento12-12pt_BR
ipen.identifier.ipendoc18258pt_BR
ipen.identifier.localizacaoT66.067.3 / V614cpt_BR
ipen.meioeletronicohttp://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85131/tde-10122012-093250/pt-br.phppt_BR
ipen.type.genreDissertação
relation.isAuthorOfPublication40eb4abc-3339-4312-8767-9720a0f3fe8d
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery40eb4abc-3339-4312-8767-9720a0f3fe8d
sigepi.autor.atividadeVIANA, VLAMIR:8767:330:Spt_BR

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