Filtration influence in a constant potential X-ray machine peak voltage measurements
Carregando...
Data
Data de publicação
Orientador
Título da Revista
ISSN da Revista
Título do Volume
É parte de
É parte de
É parte de
Brazilian Journal of Radiation Sciences
Exportar
Resumo
This work shows the peak voltage measurements for several beam filtrations used in diagnostic radiology, using two types of non-invasive detectors; a voltage meter and a high-resolution spectrometer. The technique chosen for the voltage peak measurements with the spectrometer was the endpoint. The results were compared to the measured ones and showed good similarity to the nominal values. However the voltage meter detector used in this work pre-sented errors for heavier filtrations.
Como referenciar
SANTOS, L.R.; VIVOLO, V.; NAVARRO, M.V.T.; XAVIER, M.; POTIENS, M.P.A. Filtration influence in a constant potential X-ray machine peak voltage measurements. Brazilian Journal of Radiation Sciences, v. 05, n. 02, p. 01-09, 2017. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/28570. Acesso em: 30 Dec 2025.
Esta referência é gerada automaticamente de acordo com as normas do estilo IPEN/SP (ABNT NBR 6023) e recomenda-se uma verificação final e ajustes caso necessário.