A comparative scanning electron microscopy study of smear layer removal on root surfaces by different etching modalities and Er:YAG laser irradiation
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2001
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CONGRESS OF THE GERMAN SOCIETY FOR LASER DENTISTRY DGL, 10th
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THEODORO, L.H.; HAYPEK, P.; GARCIA, V.G.; ZEZELL, D.M.; EDUARDO, C.P. A comparative scanning electron microscopy study of smear layer removal on root surfaces by different etching modalities and Er:YAG laser irradiation. In: CONGRESS OF THE GERMAN SOCIETY FOR LASER DENTISTRY DGL, 10th, May 17-20, 2001, Vienna, Austria. Abstracts... p. 42-43. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/20776. Acesso em: 27 Mar 2026.
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