Propriedades dosimétricas de absorção óptica (AO), termoluminescência (TL) e de ressonância paramagnética eletrônica (RPE) da apofilita

Abstract

Tanto cristais sintéticos como os minerais naturais possuem na sua estrutura cristalina os chamados defeitos pontuais, dos quais dependem muito as propriedades físicas do material. A Apofilita, um mineral de silicato, pertence ao grupo dos Filossilicatos. Defeitos associados ao oxigênio, induzidos por radiação em silicatos de camada, têm atraído interesse significativo devido ao fato destes serem dosímetros sensíveis. Neste trabalho, foi dada ênfase às análises de termoluminescência, ressonância paramagnética eletrônica e absorção óptica da Apofilita, de modo a estabelecer suas correlações, com o objetivo de compreender melhor as propriedades dosimétricas do material estudado, dependentes de defeitos pontuais no sistema cristalino. Foi verificada a viabilidade do uso do presente cristal em dosimetria de radiação, em determinada faixa de dose, e na presença de decaimento anômalo. A curva experimental de emissão TL mostrou o pico de maior intensidade em 230°C, e a deconvolução mostrou a existência de, ao menos, mais um pico de intensidade menor, a 197°C. A proximidade de ambos articula uma associação interessante, resultando em meia vida combinada de quase dois anos. Análises TL, intercaladas com uma série de recozimentos, mostraram que o tratamento térmico a 700°C suscita a sensibilidade máxima no cristal, cuja curva resposta da emissão TL cresce linearmente, desde doses baixas, a cerca de, pelo menos, dezenas de mGy a doses mais altas, de 3kGy. A resposta TL provém do centro associado ao oxigênio (O-). Este centro dimana de duas matrizes após a radiação: hidroxilas relacionadas à água e à estrutura do silicato (SiO3-).