Dispositivo para analisis no dispersivo, por rayos X, em microscopios electronicos de barredura
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1978
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2rd CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS
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PAZ, L.M. Dispositivo para analisis no dispersivo, por rayos X, em microscopios electronicos de barredura. In: 2rd CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 11-15 dez, 1978, Rio de Janeiro, RJ, Brasil. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18570. Acesso em: 30 Dec 2025.
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