Dispositivo para analisis no dispersivo, por rayos X, em microscopios electronicos de barredura

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dc.contributor.authorPAZ, L.M.pt_BR
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.evento2rd CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAISpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-17T18:49:25Zpt_BR
dc.date.accessioned2014-11-18T18:55:25Zpt_BR
dc.date.accessioned2015-04-01T22:14:39Z
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dc.date.evento11-15 dez, 1978pt_BR
dc.identifier.citationPAZ, L.M. Dispositivo para analisis no dispersivo, por rayos X, em microscopios electronicos de barredura. In: 2rd CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIENCIA DOS MATERIAIS, 11-15 dez, 1978, Rio de Janeiro, RJ, Brasil. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18570.
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18570pt_BR
dc.local.eventoRio de Janeiro, RJ, Brasilpt_BR
dc.rightsopenAccess
dc.subjectcollimatorspt_BR
dc.subjectelectron microscopespt_BR
dc.subjectexcitationpt_BR
dc.subjectoptical dispersionpt_BR
dc.subjectx radiationpt_BR
dc.subjectx-ray fluorescence analysispt_BR
dc.titleDispositivo para analisis no dispersivo, por rayos X, em microscopios electronicos de barredurapt_BR
dc.typeTexto completo de eventopt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.date.recebimento81-12pt_BR
ipen.event.datapadronizada1978pt_BR
ipen.identifier.ipendoc01246pt_BR
ipen.type.genreArtigo
sigepi.autor.atividadePAZ, L.M.:-1:-1:Spt_BR

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