Zircônia tetragonal policristalina. Parte II
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Cerâmica
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Resumo
Nesta segunda parte são mostrados os resultados obtidos em cerâmicas densas de ZrO2: 3%
mol Y2O3 (YTZP) e 12% mol CeO2 (CeTZP), analisadas por espectroscopia Raman,
microscopia eletrônica de varredura, e por espectroscopia de impedância. Os resultados
mostram que, para ambos tipos de amostras, é possível obter cerâmicas densas (> 95% da
densidade teórica) para temperaturas de sinterização inferiores a 0,45 TF(TF = temperatura de
fusão). A taxa de crescimento de grãos é dependente do cátion estabilizante, sendo maior para
a CeTZP do que para a YTZP. Os espectros Raman de cerâmicas sinterizadas mostram as
bandas típicas associadas aos modos ativos da fase cristalográfica tetragonal. Os resultados de
espectroscopia de impedância são similares aos obtidos por outros pesquisadores tanto para
cerâmicas convencionais quanto nanofásicas no caso da YTZP. Para a CeTZP foi observada
uma redução na condutividade extrínseca em consequência da maior pureza do precursor
cristalizado.
Como referenciar
TADOKORO, S.K.; MUCCILLO, E.N.S. Zirconia tetragonal policristalina. Parte II: microestrutura e resistividade eletrica. Cerâmica, v. 47, n. 302, p. 100-108, 2001. DOI: 10.1590/S0366-69132001000200007. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/6153. Acesso em: 26 Mar 2026.
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