D-scan measurement of the ablation threshold and incubation parameter of optical materials in the ultrafast regime
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2012
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INTERNATIONAL CONFERENCE ON PHOTONIC TECNOLOGIES, 7th
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ROSSI, W. de; MACHADO, L.M.; VIEIRA JUNIOR, N.D.; SAMAD, R.E. D-scan measurement of the ablation threshold and incubation parameter of optical materials in the ultrafast regime. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON PHOTONIC TECNOLOGIES, 7th, November 12-15, 2012, Furth, germany. Abstract... p. 151. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/20162. Acesso em: 20 Mar 2026.
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