Otimização de parâmetros de tomografia computadorizada industrial para comparação entre peças de polímero e modelo matemático

dc.contributor.authorVIEIRA, A.
dc.contributor.authorCARDOSO, C.
dc.contributor.authorFELIX, J.B.
dc.contributor.authorROSSI, W. de
dc.contributor.authorMONTEIRO, W.A.
dc.coverageNacionalpt_BR
dc.creator.eventoCONGRESSO BRASILTEC & VINILTEC, 3.pt_BR
dc.date.accessioned2017-01-13T16:38:16Z
dc.date.available2017-01-13T16:38:16Z
dc.date.evento8-9 de novembro, 2016pt_BR
dc.description.abstractEste trabalho busca comprovar a aplicabilidade da tomografia computadorizada industrial (TCI), no controle dimensional de peças plásticas, por meio do estudo de otimização de parâmetros de máquina (tensão, corrente, spot size, número de projeções) e parâmetros de software (escala de cinza, reconstrução matemática, número de polígonos) para obtenção de resultados confiáveis e com boa resolução da nuvem de pontos. O objeto de análise foi um padrão de baquelite com geometrias retangulares e circulares fornecido por uma empresa alemã usuária da tecnologia. Os resultados da TCI foram comparados com resultados obtidos por máquina de medir por coordenadas (MMC) e medidor de altura. Para otimização dos parâmetros de escaneamento, os detalhes do padrão com características dimensionais menores que 2 mm foram analisados visualmente, pois estes estão sujeitos a maior perda de definição devido à resolução da nuvem de pontos. Com base nas comparações, notou-se que o parâmetro de maior influência é o voxel size que é função da tensão e da corrente, deste modo, concluiu-se que o voxel deveria ser da ordem de 40 μm. Embora os métodos de controle dimensional utilizados na comparação possuam diferentes incertezas de medição, que é caracterizada como erro aleatório, as dimensões das características avaliadas por TCI apresentaram desvios de aproximadamente 18 μm em relação aos resultados da MMC e medidor altura, estando acima dos valores de incerteza dos métodos, porém relativamente pequenos em relação as variações esperadas em peças fabricadas pelo processo de injeção. Concluiu-se então, que a TCI é um método confiável para controle dimensional de peças plásticas, permitindo resultados confiáveis e semelhantes aos métodos tradicionais de medição, além de possibilitar a análise de detalhes complexos e de difícil acesso a outros métodos, como por exemplo, pequenos furos e canais. Outro benefício é a redução de fontes de erro de medição, como por exemplo, pressão de apalpação, existente em métodos táteis e consideravelmente influente em peças plásticas de pequenas espessuras. A TCI pode ainda oferecer soluções para análise falhas de preenchimento podendo ser uma importante ferramenta para otimização de processos de injeção.pt_BR
dc.identifier.citationVIEIRA, A.; CARDOSO, C.; FELIX, J.B.; ROSSI, W. de; MONTEIRO, W.A. Otimização de parâmetros de tomografia computadorizada industrial para comparação entre peças de polímero e modelo matemático. In: CONGRESSO BRASILTEC & VINILTEC, 3., 8-9 de novembro, 2016, São Paulo, SP. <b>Resumo...</b> Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/26987.
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0003-1371-7521
dc.identifier.urihttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/26987
dc.local.eventoSão Paulo, SPpt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectoptimization
dc.subjectcomputerized tomography
dc.subjectpolymers
dc.subjectmathematical models
dc.subjectinjection
dc.subjectuses
dc.subjectsize
dc.subjectcontrol
dc.titleOtimização de parâmetros de tomografia computadorizada industrial para comparação entre peças de polímero e modelo matemáticopt_BR
dc.typeResumo de eventos científicospt_BR
dspace.entity.typePublication
ipen.autorCRISTIANO CARDOSO
ipen.autorWALDEMAR ALFREDO MONTEIRO
ipen.autorWAGNER DE ROSSI
ipen.autorALEXANDRE VIEIRA
ipen.codigoautor14388
ipen.codigoautor982
ipen.codigoautor73
ipen.codigoautor14116
ipen.contributor.ipenauthorCRISTIANO CARDOSO
ipen.contributor.ipenauthorWALDEMAR ALFREDO MONTEIRO
ipen.contributor.ipenauthorWAGNER DE ROSSI
ipen.contributor.ipenauthorALEXANDRE VIEIRA
ipen.date.recebimento17-01pt_BR
ipen.event.datapadronizada2016pt_BR
ipen.identifier.ipendoc22820pt_BR
ipen.notas.internasResumopt_BR
ipen.type.genreResumo
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sigepi.autor.atividadeVIEIRA, A.:14116:-1:Spt_BR
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