Radiation damage study on the electrical properties of Si diodes
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2010
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BRAZILIAN WORKSHOP ON NUCLEAR PHYSICS, 33rd
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PASCOALINO, KELLY C.S.; GONCALVES, JOSEMARY A.C.; TOBIAS, CARMEN C.B. Radiation damage study on the electrical properties of Si diodes. In: VANIN, VITO R. (ed.). In: BRAZILIAN WORKSHOP ON NUCLEAR PHYSICS, 33rd, September 7-11, 2010, Campos do Jordão, SP. Proceedings... p. 345-348. Disponível em: http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/17879. Acesso em: 30 Dec 2025.
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